-
资源简介
摘要：本文件规定了PIN和雪崩光电二极管暗电流的测试方法，包括测试条件、设备要求及测量步骤。本文件适用于光电二极管性能评估及相关产品的质量检测。
Title：Test Method for Dark Current of PIN and Avalanche Photodiodes
中国标准分类号：M63
国际标准分类号：31.080 -
封面预览
-
拓展解读
主要内容
SJ 2354.3-1983《PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法》主要规定了如何测量PIN和雪崩光电二极管的暗电流。该标准详细描述了测试环境、设备要求以及具体的测试步骤，确保测试结果的一致性和准确性。
对比老版本的变化
- 测试环境: 新版本对测试环境的要求更加严格，增加了对温度和湿度的具体控制指标。
- 设备要求: 更新了测试设备的技术参数，引入了更高精度的电流测量仪器。
- 测试步骤: 增加了详细的校准流程，并对数据处理方法进行了优化。
- 安全性: 新版本特别强调了测试过程中的安全注意事项，避免操作人员受到伤害。
-
下载说明
预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。
当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。
资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。
如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。