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  • SJ 20842-2002 砷化镓表面镓砷比的测试方法

    SJ 20842-2002 砷化镓表面镓砷比的测试方法
    砷化镓镓砷比测试方法半导体材料表面分析
    14 浏览2025-06-07 更新pdf0.34MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了砷化镓表面镓砷比的测试方法,包括测试原理、设备要求、样品制备及数据处理等内容。本文件适用于砷化镓材料的质量控制及相关研究领域。
    Title:Test Method for Gallium to Arsenic Ratio on Gallium Arsenide Surface
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:25.160

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    SJ 20842-2002 砷化镓表面镓砷比的测试方法
  • 拓展解读

    概述

    SJ 20842-2002 是关于砷化镓表面镓砷比测试方法的标准文件,用于规范相关测试流程和要求。

    主要内容

    • 测试原理: 通过X射线荧光光谱法(XRF)测定砷化镓表面的镓和砷含量。
    • 样品制备: 要求样品表面清洁、平整,避免污染和损伤。
    • 仪器校准: 使用标准样品对设备进行校准,确保测试结果的准确性。
    • 数据处理: 根据测试结果计算镓砷比,并提供详细的误差分析。

    与老版本的变化

    • 测试精度提升: 新版本引入了更先进的XRF技术,提高了测量的精确度。
    • 样品制备要求: 对样品表面的要求更加严格,以减少外部因素的影响。
    • 标准化流程: 增加了详细的步骤说明,便于操作人员理解和执行。
    • 安全注意事项: 强调了在测试过程中需要注意的安全事项,保障操作人员的安全。
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