YS/T 1744-2025 半绝缘砷化镓单晶衬底片
衬底
绝缘
单晶

771浏览行业标准-有色金属H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料

SJ 20844A-2018 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
绝缘
测试
方法

900浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、

SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
晶片
试验方法
砷化镓

544浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料

SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
密度
低位
抛光

564浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料

SJ 20844-2002 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
绝缘
测试
方法

680浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、

SJ 20842-2002 砷化镓表面镓砷比的测试方法
表面
测试
方法

897浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、

SJ 50033/27-1994 半导体分立器件 2EC600系列砷化镓变容二极管详细规范
半导体
分立
器件

810浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管

SJ 3241-1989 砷化镓单晶棒及片
单晶
砷化镓

957浏览行业标准-电子H82冶金 - 半金属与半导体材料 - 元素半导体材料、

SJ 3244.3-1989 砷化镓、磷化铟单晶晶向的测量方法
磷化
晶晶
砷化镓

574浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、

SJ 3242-1989 砷化镓外延片
外延
砷化镓

746浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料、

低光能触发的砷化镓光导开关导通机理
砷化镓
光导开关
低光能

8浏览2025-07-20上传pdf2.07MB共48页未评分

砷化镓纳米阵列的制备与光学性能研究
砷化镓
纳米阵列
制备工艺

11浏览2025-07-17上传pdf0.39MB共1页未评分

GBT 17170-1997 非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
砷化镓
半绝缘
EL2浓度

14浏览2025-06-11上传pdf0.33MB未评分

GBT 17170-2015 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法
砷化镓
半绝缘
EL2浓度

20浏览2025-06-11上传pdf0.33MB未评分

GBT 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法
砷化镓
单晶
AB微缺陷

14浏览2025-06-11上传pdf3.58MB未评分