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  • SJ 20232-1993 国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪检定规程

    SJ 20232-1993 国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪检定规程
    场效应晶体管参数测试仪检定规程电子测量半导体
    18 浏览2025-06-07 更新pdf0.24MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪的计量性能要求、技术要求、检定条件、检定项目和方法以及检定结果的处理。本文件适用于国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪的首次检定、后续检定和使用中检验。
    Title:Specification for Verification of G,P Parameter Tester for Dual-Gate Field Effect Transistors
    中国标准分类号:M63
    国际标准分类号:31.080

  • 封面预览

    SJ 20232-1993 国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪检定规程
  • 拓展解读

    主要内容

    SJ 20232-1993《国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪检定规程》规定了对国洋双栅场效应晶体管G,P参数测试仪的检定方法和要求,确保仪器测量结果的准确性和可靠性。

    对比老版本的变化

    • 技术要求更新: 新版本增加了对更高精度测量需求的支持,提高了对仪器分辨率的要求。
    • 检定项目扩展: 相较于老版本,新版本增加了对温度稳定性、电磁兼容性的测试要求。
    • 校准方法优化: 引入了更先进的校准技术和参考标准,提升了检定过程的科学性和准确性。
    • 操作流程简化: 对操作步骤进行了优化,减少了人为误差的可能性。
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