资源简介
摘要:本文件规定了HP4145A型半导体参数分析仪的计量性能要求、检定条件、检定项目和方法以及检定结果的处理。本文件适用于HP4145A型半导体参数分析仪的首次检定、后续检定和使用中检验。
Title:Calibration Regulations for HP4145A Semiconductor Parameter Analyzer
中国标准分类号:M32
国际标准分类号:17.220.20
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拓展解读
SJ 20234-1993 HP4145A型半导体参数分析仪检定规程
HP4145A型半导体参数分析仪是一种用于测量半导体器件特性的精密仪器,广泛应用于电子元器件的质量控制和研发领域。
SJ 20234-1993检定规程规定了HP4145A型半导体参数分析仪的检定方法、技术要求及检定周期等内容,旨在确保仪器测量结果的准确性和可靠性。
若检定结果不合格,需立即停止使用设备,并联系专业维修人员进行故障排查和修复。修复后需重新进行检定,直至合格方可继续使用。
检定完成后,需核对检定证书上的各项指标是否符合要求,并将证书存档备查。同时,设备上应贴有有效的检定标识以表明其合格状态。
不建议自行检定,因为检定过程涉及复杂的技术操作和标准设备的使用,非专业人员可能无法保证检定结果的准确性。建议委托具备资质的专业机构完成。
根据SJ 20234-1993检定规程,HP4145A型分析仪的检定周期一般为一年。但在特殊情况下,可根据实际使用情况适当调整。