• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 制造
  • SJ 20062-1992 半导体分立器件.3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管.详细规范

    SJ 20062-1992 半导体分立器件.3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管.详细规范
    半导体分立器件3DG210型NPN硅晶体管超高频低噪声差分对
    15 浏览2025-06-07 更新pdf0.3MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的设计、生产和验收。
    Title:Semiconductor Discrete Devices - 3DG210 Type NPN Silicon Ultra-High Frequency Low Noise Differential Pair Transistor - Detailed Specifications
    中国标准分类号:M42
    国际标准分类号:31.080.01

  • 封面预览

    SJ 20062-1992 半导体分立器件.3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管.详细规范
  • 拓展解读

    总结SJ 20062-1992主要内容

    SJ 20062-1992详细规定了3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的技术要求和测试方法。该标准涵盖了晶体管的电气特性、机械结构以及性能参数,适用于制造和检验此类晶体管。

    • 电气特性:包括电流增益、截止频率、噪声系数等关键指标。
    • 机械结构:定义了晶体管的外形尺寸、引脚排列及封装材料。
    • 测试方法:提供了详细的测试条件和测量步骤,确保产品的一致性和可靠性。

    对比老版本的变化

    与老版本相比,SJ 20062-1992在以下几个方面进行了更新和改进:

    • 电气性能提升:提高了截止频率和降低了噪声系数,以适应更高性能的应用需求。
    • 增强可靠性:增加了老化测试的要求,确保长期使用的稳定性。
    • 优化制造工艺:调整了部分生产工艺参数,以提高生产效率和一致性。
    • 扩展适用范围:新增了一些特殊环境下的测试条件,如高温高湿环境。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 SJ 20064-1992 半导体分立器件.QL71型硅单相桥式整流器.详细规范

    SJ 20066-1992 半导体分立器件.2CL3型硅高压整流堆详细规范

    SJ 20067-1992 半导体分立器件.2CZ30型硅整流二极管详细规范

    SJ 20068-1992 半导体分立器件.2DW14~18型低噪声硅电压基准二极管详细规范

    SJ 20069-1992 半导体分立器件.2CK76型硅开关二极管详细规范

资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1