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摘要:本文件规定了使用原子力显微术(AFM)测量石墨烯材料表面电势的方法,包括样品制备、仪器校准、测量步骤及数据分析。本文件适用于石墨烯及相关二维材料的表面电势特性研究与评价。
Title:Measurement of Surface Potential of Graphene Materials by Atomic Force Microscopy
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.160
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拓展解读
在TSPSTS 031-2023《石墨烯材料表面电势测量 原子力显微术》中,有一项重要的改动是关于表面电势测量的校准方法。相较于旧版标准,新版标准在这一部分提供了更为详细的指导和更精确的要求。
首先,在旧版标准中,对于表面电势测量的校准方法描述较为笼统,仅给出了大致的操作流程。而在新版标准中,明确了使用参考样品进行校准的具体步骤。例如,要求选用具有已知表面电势值的标准样品,并且该样品的表面特性需与被测石墨烯材料尽可能接近。这样做的目的是为了确保校准结果的准确性和可靠性。
具体应用时,可以按照以下步骤来进行校准:
1. 准备好标准样品:选择一块表面电势值已知且与待测石墨烯材料特性相近的标准样品。
2. 设置仪器参数:根据原子力显微镜的操作手册调整相关设置,包括探针的选择、扫描速度等。
3. 执行测量:将标准样品放置于原子力显微镜工作台上,启动设备开始测量其表面电势分布情况。
4. 数据分析:对比实际测得的数据与标准样品的真实值,计算两者之间的误差率。
5. 调整仪器:如果发现误差超过允许范围,则需要对仪器进行相应调整直至满足精度要求为止。
通过以上方法,能够有效提高石墨烯材料表面电势测量结果的准确性。同时,这种严格的校准过程也保证了不同实验室间数据可比性,促进了科研工作的顺利开展。