TCGIA 006.1-2024 石墨烯材料 特性参数与测试方法——第1部分：薄膜

TCGIA 006.1-2024《石墨烯材料 特性参数与测试方法 第1部分：薄膜》是石墨烯薄膜领域的重要技术标准。本文以“薄膜厚度测量”为例，解析该标准新旧版本的主要差异及应用方法。

在旧版标准中，对于石墨烯薄膜厚度的测量仅规定了光学显微镜法，但未对操作细节和技术要求进行细化。而在新版标准中，新增了原子力显微镜（AFM）法作为补充，并明确了两种方法的具体适用范围和技术要求。

以AFM法为例，其应用步骤如下：首先，将制备好的石墨烯薄膜样品放置于AFM设备的工作台上，确保样品表面清洁无污染；其次，选择合适的探针和扫描模式，通常采用轻敲模式以减少对样品的损伤；再次，设定扫描区域和分辨率，一般推荐扫描面积为5μm×5μm，分辨率不低于512×512像素；最后，通过软件分析获取的三维图像数据，计算出石墨烯薄膜的平均厚度。

这一改进不仅提高了测量精度，还扩大了适用范围，使研究人员能够更准确地评估石墨烯薄膜的质量特性。因此，在实际应用过程中，应根据具体需求合理选择测量方法，确保结果的科学性和可靠性。