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  • GBT 5195.15-2017 萤石 钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

    GBT 5195.15-2017 萤石 钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
    萤石钙波长色散X射线荧光光谱法铝硅
    15 浏览2025-06-08 更新pdf0.38MB 未评分
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    摘要:本文件规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定萤石中钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的方法。本文件适用于萤石中上述元素含量的测定。
    Title:Fluorite - Determination of calcium, aluminum, silicon, phosphorus, sulfur, potassium, iron, barium and lead content - Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry
    中国标准分类号:G12
    国际标准分类号:71.060.99

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    GBT 5195.15-2017 萤石 钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
  • 拓展解读

    GBT 5195.15-2017 萤石中元素含量测定常见问题解答

    什么是GBT 5195.15-2017标准?

    GBT 5195.15-2017是中国国家标准,规定了通过波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)测定萤石中钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅等元素含量的方法。该方法适用于工业生产和质量控制领域。

    为什么选择波长色散X射线荧光光谱法进行测定?

    波长色散X射线荧光光谱法具有快速、准确、非破坏性和多元素同时测定的优点,特别适合萤石中多种元素含量的分析。与传统化学分析相比,这种方法减少了样品前处理的时间和成本。

    如何准备萤石样品以满足GBT 5195.15-2017的要求?

    • 将样品研磨至粒度小于45微米,确保均匀性。
    • 使用压片机将样品压制为均匀的圆片,避免气孔或裂纹。
    • 确保样品表面清洁,无油污或其他污染物。

    在实际操作中,如何校准仪器以保证测量准确性?

    • 使用标准参考物质(SRM)对仪器进行校准,确保仪器响应与实际含量一致。
    • 定期检查仪器的能量分辨率和计数稳定性。
    • 采用多点校准曲线,覆盖待测元素的浓度范围。

    测定过程中常见的误差来源有哪些?

    • 样品制备不均匀导致的偏差。
    • 仪器校准不当或老化引起的漂移。
    • 背景噪声或干扰元素的影响。
    • 样品中存在未知杂质或异常成分。

    如何验证测定结果的可靠性?

    • 使用不同方法(如化学滴定法)对部分样品进行对比验证。
    • 参与实验室间比对试验,评估结果的一致性。
    • 定期进行内部质控,记录数据波动趋势。

    GBT 5195.15-2017是否适用于所有类型的萤石样品?

    该标准主要适用于工业生产的萤石样品,但不适用于含有极高浓度干扰元素或特殊形态的样品。对于这类样品,可能需要额外的样品前处理或方法调整。

    测定结果中出现异常值时,应该如何处理?

    • 首先检查样品制备过程是否存在问题。
    • 确认仪器状态是否正常,必要时重新校准。
    • 如果仍无法解释,可重复测试或更换样品进行验证。

    如何保存和维护用于测定的仪器设备?

    • 定期清理仪器光学系统,防止灰尘和污染。
    • 保持仪器处于恒温、恒湿环境中,避免温度波动影响性能。
    • 定期更换耗材(如探测器窗口膜)并记录维护日志。
  • 下载说明

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