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资源简介
摘要：本文件规定了半导体器件进行盐雾试验的方法、条件和评估程序。本文件适用于半导体器件在盐雾环境下的耐腐蚀性能测试。
Title：Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 13: Salt Spray
中国标准分类号：L78
国际标准分类号：31.020 -
封面预览
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拓展解读
GBT 4937.13-2018主要内容
GBT 4937.13-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》规定了半导体器件在盐雾环境下的测试方法和要求。该标准适用于评估半导体器件在盐雾条件下的耐腐蚀性能。
- 试验目的：验证半导体器件在盐雾环境中的抗腐蚀能力。
- 试验条件：包括盐溶液浓度、温度、湿度和喷雾时间等具体参数。
- 试验步骤：详细描述了试验前准备、试验过程以及试验后评估的方法。
- 结果评定：根据试验后的外观和功能变化进行评价。
与老版本的变化
相比旧版本，GBT 4937.13-2018在以下几个方面进行了更新和改进：
- 试验条件优化：调整了盐溶液的浓度范围，使其更符合实际应用环境。
- 测试流程简化：对试验步骤进行了简化，提高了操作的便捷性。
- 评估标准更新：增加了更多详细的评估指标，确保结果更加准确。
- 适用范围扩展：涵盖了更多类型的半导体器件，适应了行业发展的新需求。
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