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摘要:本文件规定了半导体器件在机械和气候环境下的试验方法,包括试验条件、程序和评估准则。本文件适用于各类半导体器件的环境适应性和可靠性评估。
Title:Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods
中国标准分类号:M41
国际标准分类号:31.080
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拓展解读
GBT 4937-1995 是中国国家标准,规定了半导体器件在机械和气候环境下的测试方法。以下是关于此标准的常见问题及其解答。
GBT 4937-1995 的主要目的是为半导体器件提供统一的机械和气候试验方法,以评估其在不同环境条件下的可靠性和耐用性。这些试验方法可以帮助制造商确保产品能够在预期的使用环境中正常工作。
温度循环试验旨在模拟器件在高低温交替环境中的性能变化。具体要求包括:
湿热试验用于评估器件在高湿度和高温环境下的抗腐蚀和可靠性能力。试验过程中需要严格控制温度和湿度参数,例如:
GBT 4937-1995 主要适用于分立半导体器件,如二极管、晶体管等。对于集成电路(IC)或其他特殊器件,可能需要参考其他相关标准或补充试验方法。
试验结果的合格与否取决于器件的功能表现和外观检查。通常需要满足以下条件:
GBT 4937-1995 是中国的国家标准,而国际上常用的类似标准包括 JEDEC JESD22 系列。两者的主要区别在于:
如果试验结果不合格,应采取以下步骤:
GBT 4937-1995 自发布以来未有修订版本,但随着技术的发展,建议参考最新版本的国际标准或行业规范,以确保试验方法的科学性和适用性。
GBT 4937-1995 的完整文本可以通过国家标准化管理委员会(SAC)或相关出版机构购买。此外,部分图书馆或研究机构也可能提供查阅服务。