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资源简介
摘要：本文件规定了非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。本文件适用于非本征半导体单晶材料的电学特性测试与分析。
Title：Methods for measuring Hall mobility and Hall coefficient of non-intrinsic semiconductor single crystals
中国标准分类号：K21
国际标准分类号：29.045 -
封面预览
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拓展解读
GBT 4326-1984主要内容
该标准规定了非本征半导体单晶材料中霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。主要包括以下内容：
- 测量原理：基于霍尔效应的基本理论。
- 实验设备：包括霍尔效应测试仪、磁场发生器等。
- 样品制备：对样品尺寸、表面质量等提出要求。
- 测量步骤：详细描述了测量过程中的具体操作步骤。
- 数据处理：如何计算霍尔迁移率和霍尔系数，并给出误差范围。
与老版本的变化
GBT 4326-1984相比老版本的主要变化如下：
- 引入了更精确的测量仪器和更高的精度要求。
- 优化了样品制备的要求，提高了测量结果的可靠性。
- 增加了对温度影响的修正方法，以适应不同温度下的测量需求。
- 改进了数据处理算法，提供了更准确的计算公式。
- 明确了更多安全注意事项，确保实验过程的安全性。
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