• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 制造
  • GBT 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

    GBT 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
    半导体单晶霍尔迁移率霍尔系数测量方法非本征
    21 浏览2025-06-08 更新pdf1.04MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。本文件适用于非本征半导体单晶材料的电学特性测试与分析。
    Title:Methods for measuring Hall mobility and Hall coefficient of non-intrinsic semiconductor single crystals
    中国标准分类号:K21
    国际标准分类号:29.045

  • 封面预览

    GBT 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • 拓展解读

    GBT 4326-1984主要内容

    该标准规定了非本征半导体单晶材料中霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。主要包括以下内容:

    • 测量原理:基于霍尔效应的基本理论。
    • 实验设备:包括霍尔效应测试仪、磁场发生器等。
    • 样品制备:对样品尺寸、表面质量等提出要求。
    • 测量步骤:详细描述了测量过程中的具体操作步骤。
    • 数据处理:如何计算霍尔迁移率和霍尔系数,并给出误差范围。

    与老版本的变化

    GBT 4326-1984相比老版本的主要变化如下:

    • 引入了更精确的测量仪器和更高的精度要求。
    • 优化了样品制备的要求,提高了测量结果的可靠性。
    • 增加了对温度影响的修正方法,以适应不同温度下的测量需求。
    • 改进了数据处理算法,提供了更准确的计算公式。
    • 明确了更多安全注意事项,确保实验过程的安全性。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 GBT 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

    GBT 43341-2023 纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量 拉曼光谱法

    GBT 4340.3-1999 金属维氏硬度试验 第3部分;标准硬度块的标定

    GBT 43413-2023 无损检测 红外热成像检测 热弹性应力测量方法通则

    GBT 43682-2024 纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法

资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1