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资源简介
摘要：本文件规定了用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼及其化合物中硅含量的方法。本文件适用于钼及其化合物中硅量的测定。
Title：Chemical analysis methods of molybdenum - Part 12: Determination of silicon content - Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
中国标准分类号：H45
国际标准分类号：77.080.01 -
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拓展解读
GBT 4325.12-2013主要内容
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定钼中硅含量的方法。该方法适用于钼材料中硅含量的检测。
- 样品制备：样品需经过适当的溶解和稀释处理，确保溶液均匀且无颗粒物。
- 仪器条件：包括仪器的工作参数设置，如射频功率、冷却气流量、辅助气流量等。
- 校准曲线：通过一系列已知浓度的标准溶液建立校准曲线。
- 测量与计算：利用ICP-AES设备对样品进行测量，并根据校准曲线计算硅的含量。
- 结果报告：最终结果需精确到小数点后两位，并注明检测方法。
与老版本的变化
相比老版本，新版标准在以下几个方面进行了改进：
- 灵敏度提升：优化了仪器参数，提高了检测的灵敏度和准确性。
- 操作简化：减少了样品前处理步骤，降低了人为误差的可能性。
- 适用范围扩展：增加了更多类型的钼基材料适用性说明。
- 数据可靠性增强：引入了更严格的质控措施，确保测试结果的可靠性。
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