GBT 4325.12-2013 钼化学分析方法 第12部分：硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GBT 4325.12-2013主要内容

本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定钼中硅含量的方法。该方法适用于钼材料中硅含量的检测。

• 样品制备：样品需经过适当的溶解和稀释处理，确保溶液均匀且无颗粒物。
• 仪器条件：包括仪器的工作参数设置，如射频功率、冷却气流量、辅助气流量等。
• 校准曲线：通过一系列已知浓度的标准溶液建立校准曲线。
• 测量与计算：利用ICP-AES设备对样品进行测量，并根据校准曲线计算硅的含量。
• 结果报告：最终结果需精确到小数点后两位，并注明检测方法。

与老版本的变化

相比老版本，新版标准在以下几个方面进行了改进：

• 灵敏度提升：优化了仪器参数，提高了检测的灵敏度和准确性。
• 操作简化：减少了样品前处理步骤，降低了人为误差的可能性。
• 适用范围扩展：增加了更多类型的钼基材料适用性说明。
• 数据可靠性增强：引入了更严格的质控措施，确保测试结果的可靠性。