资源简介
摘要:本文件规定了利用分析电子显微术确定层状材料截面像中界面位置的方法,包括样品制备、成像条件选择、界面识别及测量步骤等。本文件适用于采用透射电子显微镜(TEM)对层状材料界面进行定量分析的场景。
Title:Microbeam Analysis - Analytical Electron Microscopy - Method for Determining Interface Positions in Cross-sectional Images of Layered Materials
中国标准分类号:J74
国际标准分类号:25.160.10
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拓展解读
在遵循标准《GBT 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》的基础上,通过优化流程和降低成本,以下为10项可行的弹性方案: