TCSTM 00985-2023 低损耗介质板的复介电常数测试 分离式圆柱谐振腔法

摘要：本文件规定了低损耗介质板复介电常数的测试方法，采用分离式圆柱谐振腔法进行测量。本文件适用于低损耗介质板材料电磁特性的评估与质量控制。
Title：Test Method for Complex Dielectric Constant of Low-loss Dielectric Boards - Split Cylinder Resonator Method
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：31.140

在TCSTM 00985-2023《低损耗介质板的复介电常数测试 分离式圆柱谐振腔法》中，有一项重要的更新是关于谐振频率测量精度的要求。相较于旧版标准，新版对谐振频率的测量精度提出了更高的要求，具体从原来的±1 kHz提升到了±0.1 kHz。这一变化直接关系到测试结果的准确性与可靠性。

为了更好地理解和应用这一条文，首先需要了解分离式圆柱谐振腔法的基本原理。该方法通过将待测样品放置在一个微波谐振腔内，利用样品对腔体共振特性的影响来间接测量其复介电常数。其中，谐振频率的变化量与样品的介电常数密切相关，因此精确测量谐振频率至关重要。

对于如何实现±0.1 kHz的测量精度，可以从以下几个方面着手：

1. **仪器选择**：选用高精度的网络分析仪或其他能够提供微小频率变化检测能力的设备。确保设备具有足够的分辨率带宽和扫描步进宽度设置选项。

2. **环境控制**：保持测试环境稳定，避免温度、湿度等因素引起不必要的频率漂移。可以采用恒温箱等装置来维持测试环境的一致性。

3. **样品准备**：正确安装待测样品，保证样品与谐振腔的良好接触，减少寄生效应。同时注意样品尺寸公差控制，过大或过小都会影响测量结果。

4. **数据处理**：采用适当的算法处理采集到的数据，准确识别出谐振峰位置。可以通过拟合曲线等方式提高频率定位的准确性。

5. **重复验证**：多次重复实验以验证测量结果的一致性，并记录每次实验的具体条件以便后续分析。

登陆阅读剩余内容

登陆 注册