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    GBT 35533-2017 染色体异常检测基因芯片通用技术要求
    染色体异常基因芯片检测技术生物信息学遗传疾病
    14 浏览2025-06-08 更新pdf0.33MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了染色体异常检测基因芯片的技术要求、性能指标、质量控制及验证方法。本文件适用于基于基因芯片技术进行染色体异常检测的医疗器械和相关应用。
    Title:General Technical Requirements for Chromosomal Abnormality Detection Microarray
    中国标准分类号:C46
    国际标准分类号:11.040.60

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    GBT 35533-2017 染色体异常检测基因芯片通用技术要求
  • 拓展解读

    GBT 35533-2017 染色体异常检测基因芯片通用技术要求

    GBT 35533-2017 是一项关于染色体异常检测基因芯片的通用技术要求标准。该标准旨在规范染色体异常检测基因芯片的设计、生产和应用,确保其性能和可靠性。

    主要内容

    • 适用范围: 本标准适用于基于基因芯片技术进行染色体异常检测的产品。
    • 术语和定义: 明确了相关术语和技术指标的定义,如灵敏度、特异性等。
    • 技术要求:
      • 芯片设计: 要求芯片的设计需符合特定的技术参数。
      • 数据处理: 对数据分析和结果解释提出了具体要求。
      • 质量控制: 强调生产过程中的质量控制措施。
    • 测试方法: 提供了详细的测试方法和评估标准。
    • 标志和包装: 对产品的标识和包装提出了具体要求。

    与老版本的变化

    • 更新的技术指标: 新版本对灵敏度和特异性的要求更加严格。
    • 新增内容: 增加了对数据分析和结果解释的具体指导。
    • 改进的质量控制: 在生产过程中增加了更多的质量控制环节。
    • 更严格的测试方法: 测试方法中引入了更多先进的技术和工具。
    • 增强的安全性要求: 对产品使用的安全性提出了更高的要求。
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