GBT 33714-2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术

GBT 33714-2017主要内容

GBT 33714-2017《纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术》规定了利用原子力显微术（AFM）对纳米颗粒进行尺寸测量的方法。该标准适用于通过接触模式、轻敲模式等技术获取的样品表面形貌数据，并详细描述了数据处理、分析及结果报告的具体要求。

• 样品制备：明确样品制备的要求，包括样品表面清洁、分散剂选择以及涂覆方法。
• 仪器校准：详细说明原子力显微镜的校准步骤，确保测量精度。
• 测量过程：定义测量条件，如扫描速度、分辨率等参数的选择。
• 数据分析：提供颗粒尺寸计算公式及误差评估方法。
• 报告内容：列出报告中应包含的信息，如测量条件、数据处理方法和最终结果。

与老版本的变化

相比老版本，GBT 33714-2017在以下几个方面进行了改进：

• 更严格的校准要求：增加了对探针尖端形状和尺寸的校准规范。
• 优化的数据处理流程：引入了新的算法以提高颗粒尺寸测量的准确性。
• 扩展的应用范围：增加了对复杂表面结构样品的支持。
• 增强的可操作性：提供了更多实际案例和操作建议。