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资源简介
摘要：本文件规定了表面化学分析中采用俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)测定峰强度的方法，以及报告结果所需的信息。本文件适用于使用AES和XPS技术进行材料表面成分分析的实验室和研究人员。
Title：Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods for determining peak intensities and information required to report results
中国标准分类号：J75
国际标准分类号：71.040.50 -
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拓展解读
GBT 28893-2012 主要内容
该标准规定了通过俄歇电子能谱（AES）和X射线光电子能谱（XPS）测定峰强度的方法，并明确了报告结果所需的信息。
- 测定方法：详细描述了如何准确测定AES和XPS中的峰强度。
- 报告信息：明确了在报告结果时需要包含的关键参数和细节。
与老版本的变化
相比老版本，新标准在以下几个方面进行了改进和更新：
- 更精确的测量技术：引入了新的校准方法，提高了测量精度。
- 扩展的应用范围：增加了对复杂材料的适用性说明。
- 更详细的报告要求：新增了对环境条件和仪器参数的记录要求。
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