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资源简介
摘要：本文件规定了表面化学分析中X射线光电子能谱的荷电控制和荷电校正方法的技术要求、步骤及注意事项。本文件适用于利用X射线光电子能谱进行材料表面化学分析时的荷电效应处理。
Title：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Methods for charge control and charge reference correction
中国标准分类号：J74
国际标准分类号：71.040.50 -
封面预览
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拓展解读
GBT 25185-2010主要内容
GBT 25185-2010《表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》规定了在X射线光电子能谱（XPS）分析中荷电效应的控制和校正方法。
与老版本的变化
- 更精确的荷电校正：新版本引入了更加精确的荷电校正算法，提高了测量结果的准确性。
- 扩展的应用范围：增加了对复杂样品（如绝缘材料）的荷电控制和校正指导。
- 标准化流程：明确了荷电效应的评估步骤，使操作更具规范性。
- 增强的实验数据支持：提供了更多实验数据和案例，帮助用户更好地理解和应用标准。
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