GBT 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法

GBT 23413-2009主要内容

该标准规定了利用X射线衍射线宽化法测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。主要涉及以下几个方面：

• 适用范围：适用于晶粒尺寸在纳米级别的材料。
• 测量原理：基于谢乐公式（Scherrer equation），通过分析X射线衍射峰的宽度来计算晶粒尺寸和微观应变。
• 实验步骤：包括样品制备、X射线衍射测试条件的选择以及数据处理方法。
• 结果分析：提供详细的计算公式和误差评估方法。

与老版本的变化

相比老版本，GBT 23413-2009有以下几点重要变化：

• 更精确的测量方法：引入了更先进的数据分析技术，提高了测量精度。
• 扩展的应用范围：增加了对更多类型纳米材料的支持，例如复合材料和功能性纳米材料。
• 优化的实验流程：简化了一些繁琐的操作步骤，并提供了更为详尽的实验指导。
• 增强的适用性：明确了不同材料的具体适用条件，使标准更具针对性。