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资源简介
摘要：本文件规定了半导体集成电路中电平转换器的测试方法及其基本原理，包括测试条件、测试设备、测试步骤和性能参数的评估方法。本文件适用于半导体集成电路中电平转换器的设计验证、生产测试及质量控制。
Title：Test Methods for Level Converters in Semiconductor Integrated Circuits
中国标准分类号：M52
国际标准分类号：31.080 -
封面预览
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拓展解读
概述
SJT 10804-2000 是关于半导体集成电路中电平转换器测试方法的基本原理的标准。以下是该标准的主要内容以及与老版本的变化对比。
主要内容
- 测试方法的定义: 明确了电平转换器在不同电压环境下的功能测试方法。
- 测试环境要求: 提出了更严格的温度和湿度控制要求，以确保测试结果的准确性。
- 信号输入输出特性: 详细描述了输入信号和输出信号的波形、幅值和频率范围。
- 故障检测机制: 增加了自动故障检测的功能，提高了测试效率。
与老版本的变化
- 测试环境的改进: 老版本对环境条件的要求较为宽松，而新版本增加了对极端环境的适应性测试。
- 信号特性的细化: 新版本对信号的幅值和频率范围进行了更详细的划分，提供了更精确的测试指标。
- 自动化程度提升: 引入了自动故障检测功能，减少了人工干预，提升了测试的可靠性和一致性。
- 适用范围扩展: 新版本适用于更多类型的电平转换器，包括高速和低功耗型号。
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