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摘要:本文件规定了电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法,包括样品处理、仪器条件和数据分析等内容。本文件适用于电子陶瓷行业中对二氧化锆材料中杂质含量的定量分析。
Title:Spectral Emission Analysis Method for Impurities in Zirconia Used for Electronic Ceramics
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.220
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拓展解读
在遵循“SJT 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法”核心原则的基础上,通过优化流程和降低资源消耗,可以实现更高效的执行方式。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。