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摘要:本文件规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于薄膜集成电路中作为基片的氧化铝陶瓷材料。
Title:Film Integrated Circuit Aluminum Oxide Ceramic Substrates
中国标准分类号:L91
国际标准分类号:25.220
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拓展解读
GBT 14620-1993 是中国国家标准中关于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的技术规范。这种基片材料因其卓越的性能和广泛的应用领域,在电子工业中占据重要地位。氧化铝陶瓷基片以其高导热性、高绝缘性和优异的机械强度著称,是现代电子设备中不可或缺的关键材料。
氧化铝陶瓷基片的主要成分是氧化铝(Al₂O₃),其纯度通常达到96%以上。这种材料具有以下显著特点:
这些特性使得氧化铝陶瓷基片成为薄膜集成电路的理想选择,尤其是在功率半导体、微波器件等领域。
氧化铝陶瓷基片的应用范围非常广泛,以下是几个典型的应用场景:
以某知名电子企业为例,其生产的氧化铝陶瓷基片产品已成功应用于多个国家重大工程项目,为我国航空航天事业的发展提供了坚实的技术支持。
GBT 14620-1993 的制定确保了氧化铝陶瓷基片的质量一致性,为企业生产提供了明确的技术指导。标准中对材料的化学成分、物理性能、加工工艺等都有严格要求,这不仅提高了产品的市场竞争力,也促进了行业的规范化发展。
综上所述,氧化铝陶瓷基片作为一种高性能电子材料,凭借其独特的性能优势和广泛的应用前景,在现代电子工业中发挥着不可替代的作用。未来,随着技术的进步,氧化铝陶瓷基片有望在更多领域实现创新应用。