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    GBT 11071-2006 区熔锗锭
    区熔锗锭锗半导体材料纯度晶体结构
    22 浏览2025-06-09 更新pdf0.4MB 未评分
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    摘要:本文件规定了区熔锗锭的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以冶金锗为原料,用区熔法制取的半导体器件用锗单晶锭。
    Title:GB/T 11071-2006 Zone-melting germanium ingots
    中国标准分类号:H53
    国际标准分类号:71.040.30

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    GBT 11071-2006 区熔锗锭
  • 拓展解读

    GBT 11071-2006 区熔锗锭标准内容总结

    GBT 11071-2006《区熔锗锭》是关于区熔法生产锗锭的技术规范。以下是该标准的主要内容及与老版本(假设为GB/T 11071-1989)的对比。

    主要内容

    • 范围:规定了区熔锗锭的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。
    • 技术要求:
      • 对锗锭的化学成分、物理性能、外观质量等进行了详细规定。
      • 增加了对杂质含量的更严格限制,以提高产品的纯度。
    • 试验方法:明确了检测锗锭各项指标的具体方法,包括化学分析、电阻率测量等。
    • 检验规则:规定了产品验收时的抽样方法、判定规则等。
    • 标志、包装、运输和贮存:提出了锗锭在流通环节中的具体要求,确保产品质量不受影响。

    与老版本的变化

    • 技术指标提升:相比GB/T 11071-1989,新标准对锗锭的纯度要求更高,尤其是对某些关键杂质元素的限量更加严格。
    • 试验方法改进:引入了一些新的检测技术和方法,提高了检测结果的准确性和可靠性。
    • 适用范围扩展:新增了一些应用场景和技术要求,使得标准更加符合现代工业需求。
    • 环保要求增强:在包装和运输方面增加了环保相关的规定,强调绿色生产理念。
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