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    YST 83-1994 光谱分析用钯基体
    光谱分析钯基体金属材料化学分析仪器方法
    15 浏览2025-06-10 更新pdf0.06MB 未评分
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    摘要:本文件规定了光谱分析用钯基体的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于光谱分析中作为基体材料的钯基体,主要用于金属材料的定量分析。
    Title:Spectrometric Analysis Palladium Matrix
    中国标准分类号:H03
    国际标准分类号:71.040.50

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    YST 83-1994 光谱分析用钯基体
  • 拓展解读

    YST 83-1994 光谱分析用钯基体

    YST 83-1994 是一项关于光谱分析用钯基体的标准文件,主要用于规范钯基体材料的化学成分、制备方法及检测要求。以下是该标准的主要内容总结及其与老版本的变化对比。

    主要内容

    • 化学成分要求:明确规定了钯基体中主要元素(如银、铜、金等)的含量范围,确保材料的纯度和一致性。
    • 制备方法:详细描述了钯基体的制备工艺,包括熔炼、冷却和加工步骤,以保证材料的均匀性和稳定性。
    • 检测方法:列出了用于检测钯基体质量的各项技术手段,如光谱分析法、化学分析法等。
    • 应用领域:适用于光谱分析仪器的校准和验证,为相关领域的研究和生产提供基础支持。

    与老版本的变化

    • 化学成分更新:相比老版本,新标准对某些微量元素的含量范围进行了调整,以适应更严格的分析需求。
    • 制备工艺优化:引入了新的熔炼技术和冷却方式,提高了钯基体的均匀性,减少了杂质的产生。
    • 检测方法改进:增加了先进的光谱分析技术,提升了检测的准确性和效率。
    • 适用范围扩展:新标准不仅适用于传统的光谱分析领域,还扩展到更多新兴的应用场景。
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