-
资源简介
摘要：本文件规定了人工智能芯片的基准测试评估方法，包括测试环境、性能指标、评估流程等内容。本文件适用于人工智能芯片的设计、开发、测试和评估。
Title：Assessment Methods for AI Chip Benchmark Testing
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：35.080 -
封面预览
-
拓展解读
YDT 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
主要内容
- 定义了人工智能芯片的性能评估指标体系。
- 明确了评估流程和测试环境要求。
- 细化了不同应用场景下的性能测试方法。
- 增加了对能效比和实时性的考量。
与老版本的变化
- 新增了对最新AI算法的支持。
- 优化了测试工具和方法的准确性。
- 强化了对低功耗设备的适配性评估。
- 引入了更全面的能效评估标准。
-
下载说明预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。 当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。 资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。 如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。