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  • YDT 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法

    YDT 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
    人工智能芯片基准测试评估方法性能指标
    17 浏览2025-06-10 更新pdf4.99MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了人工智能芯片的基准测试评估方法,包括测试环境、性能指标、评估流程等内容。本文件适用于人工智能芯片的设计、开发、测试和评估。
    Title:Assessment Methods for AI Chip Benchmark Testing
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:35.080

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    YDT 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
  • 拓展解读

    YDT 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法

    主要内容

    • 定义了人工智能芯片的性能评估指标体系。
    • 明确了评估流程和测试环境要求。
    • 细化了不同应用场景下的性能测试方法。
    • 增加了对能效比和实时性的考量。

    与老版本的变化

    • 新增了对最新AI算法的支持。
    • 优化了测试工具和方法的准确性。
    • 强化了对低功耗设备的适配性评估。
    • 引入了更全面的能效评估标准。
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