YDT 1690.2-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz~1GHz)第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室方法

摘要

本文基于YDT 1690.2-2007《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）》的第2部分，重点探讨了辐射发射测量中使用TEM小室和宽带TEM小室的方法。通过分析这两种测试方法的技术特点、适用范围以及操作规范，为电信设备的设计与认证提供理论支持。

引言

随着电子信息技术的快速发展，电信设备在日常生活中扮演着越来越重要的角色。然而，这些设备产生的电磁干扰可能对其他敏感设备造成影响。因此，准确评估设备的辐射发射特性显得尤为重要。YDT 1690.2-2007标准为电信设备的辐射发射测量提供了详细的指导，其中TEM小室和宽带TEM小室是两种常用的测试手段。

TEM小室与宽带TEM小室概述

TEM小室是一种用于模拟开放空间电磁环境的封闭测试装置，其内部结构设计能够有效减少外部干扰，同时保持良好的屏蔽性能。宽带TEM小室则在此基础上进一步扩展了频率覆盖范围，适用于更广泛的测试需求。

技术特点对比

• TEM小室：
  • 频率范围：150kHz至30MHz。
  • 优点：结构简单，成本较低，适合初步筛查。
  • 缺点：频率上限有限，难以满足高频段测试需求。
• 宽带TEM小室：
  • 频率范围：150kHz至1GHz。
  • 优点：覆盖频带宽，适应性强，可用于高精度测量。
  • 缺点：制造工艺复杂，造价较高。

测量方法详解

无论是TEM小室还是宽带TEM小室，其测量过程均需遵循严格的步骤：

1. 确保测试环境符合标准要求，包括接地系统、电源滤波等。
2. 将待测设备放置于小室内，并连接必要的信号源或负载。
3. 启动测试仪器，记录辐射发射数据。
4. 分析结果并判断是否符合限值要求。

结论

TEM小室和宽带TEM小室作为重要的辐射发射测量工具，在电信设备的研发与检测中发挥着不可替代的作用。通过对这两种方法的深入研究，可以更好地理解电磁兼容性问题，从而提高产品的质量和可靠性。未来，随着技术的进步，这两种测试手段有望进一步优化，以应对更加复杂的电磁环境挑战。