资源简介
摘要:本文件规定了数字集成电路中动态读写存储器的详细技术要求、测试方法及质量评定程序。本文件适用于动态读写存储器的设计、生产和验收。
Title:Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2-10: Digital Integrated Circuits - Detailed Specification for Dynamic Read/Write Memory Integrated Circuits
中国标准分类号:M35
国际标准分类号:31.140
封面预览
拓展解读
在遵循“GBT 17574.10-2003”标准的前提下,通过优化流程和降低成本,可以实现更高的灵活性。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。
预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。
当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。
资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。
如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。