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摘要:本文件规定了数字集成电路中动态读写存储器的详细技术要求、测试方法及质量评定程序。本文件适用于动态读写存储器的设计、生产和验收。
Title:Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2-10: Digital Integrated Circuits - Detailed Specification for Dynamic Read/Write Memory Integrated Circuits
中国标准分类号:M35
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
在遵循“GBT 17574.10-2003”标准的前提下,通过优化流程和降低成本,可以实现更高的灵活性。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。