-
资源简介
摘要：本文件规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定方法。本文件适用于厚膜微电子技术领域中贵金属浆料性能的评估与质量控制。
Title：Test Methods for Precious Metal Pastes Used in Thick Film Microelectronics Technology - Resolution Measurement
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：25.160 -
封面预览
-
拓展解读
主要内容
GBT 17473.6-1998 是关于厚膜微电子技术中贵金属浆料测试方法的标准，主要规定了分辨率测定的具体步骤和要求。该标准适用于评估贵金属浆料在厚膜电路中的分辨率性能，确保其符合设计精度需求。
对比老版本的变化
- 测试方法的细化：新版本对测试环境和设备的要求更加明确，增加了对温度、湿度等外部条件的控制说明。
- 分辨率指标的调整：相较于老版本，新版本提高了分辨率的最低合格标准，并引入了更精确的测量工具。
- 操作流程的优化：简化了一些复杂的操作步骤，同时增加了对数据记录和分析的具体指导。
- 适用范围的扩展：新版本不仅适用于贵金属浆料，还涵盖了更多类型的厚膜材料，增强了标准的通用性。
-
下载说明预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。 当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。 资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。 如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。