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资源简介
摘要：本文件规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料方阻测定的测试方法。本文件适用于厚膜微电子技术领域中贵金属浆料的质量检测和性能评估。
Title：Test Methods for Precious Metal Pastes Used in Thick Film Microelectronics Technology - Determination of Sheet Resistance
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：25.160 -
封面预览
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拓展解读
GBT 17473.3-1998主要内容
该标准规定了厚膜微电子技术中用于贵金属浆料的方阻测定方法。主要涉及测试设备、样品制备、测试条件以及数据处理等内容。
对比老版本的变化
- 测试设备: 新版本引入了更精确的数字万用表和自动记录系统，提高了测量精度。
- 样品制备: 对样品表面平整度的要求更加严格，确保测试结果的一致性。
- 测试条件: 调整了温度和湿度的控制范围，以适应更广泛的环境条件。
- 数据处理: 增加了统计分析部分，要求对多次测量结果进行平均值计算，并提供误差范围。
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