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摘要:本文件规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料附着力测定的测试方法。本文件适用于贵金属浆料在基材上的附着力性能评估。
Title:Test Methods for Precious Metal Pastes Used in Thick Film Microelectronics Technology - Adhesion Test
中国标准分类号:H53
国际标准分类号:25.160
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拓展解读
以下是关于该标准中附着力测定的常见问题及其解答。
附着力测定是用于评估厚膜微电子技术中贵金属浆料与基板之间结合强度的一种测试方法。通过该测试,可以判断贵金属浆料在实际应用中的可靠性。
附着力测定对于确保厚膜电路的稳定性和可靠性至关重要。如果贵金属浆料与基板之间的附着力不足,可能导致电路失效或性能下降,从而影响整个电子设备的功能。
标准中规定了两种主要的附着力测定方法:
划痕法的操作步骤如下:
剥离法的操作步骤如下:
根据 GBT 17473.4-1998 标准,附着力测定的结果需满足以下条件:
以下是一些常见的误解:
提高贵金属浆料附着力的方法包括:
附着力测定的结果应详细记录并形成报告,内容包括:
如果附着力测定不合格,应采取以下措施: