GBT 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定

GBT 17421.10-2021主要内容

该标准规定了用于数控机床探测系统测量性能测定的相关要求和方法。主要内容包括：

• 探测系统的定义及分类
• 测量性能指标的详细说明
• 测试环境和条件的要求
• 具体的测量方法和步骤
• 结果评估和报告格式

与老版本的变化

相比老版本，新版本在以下几个方面进行了重要更新：

• 新增内容：
  • 增加了对新型探测技术的适用性描述。
  • 引入了更精确的测量性能指标。
• 改进内容：
  • 优化了测试环境的具体要求。
  • 细化了测量步骤，提高了操作的可重复性。
• 删除内容：
  • 移除了部分过时的技术细节。