GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法

GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法

该标准规定了在低温条件下测量晶体材料透射率的方法和步骤。以下是其主要内容：

• 适用范围：适用于各种晶体材料在低温环境下的透射率测试。
• 试验设备：包括低温箱、光源、光谱仪等。
• 样品制备：要求样品表面清洁，尺寸符合测试要求。
• 试验步骤：详细描述了从样品放置到数据记录的全过程。
• 结果计算：提供了透射率计算公式及误差分析方法。

与老版本的变化

主要变化如下：

• 优化了低温箱的温控精度，提高了测试环境的稳定性。
• 增加了对光源波长范围的具体要求，确保数据的准确性。
• 改进了样品制备的要求，增加了对表面处理的细节说明。
• 更新了数据处理部分，引入了更先进的算法以减少误差。
• 扩展了适用范围，增加了对新型晶体材料的支持。