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摘要:本文件规定了半导体晶片坐标系的定义、建立方法和表示方式。本文件适用于半导体材料、器件及工艺相关的晶片坐标系确定与应用。
Title:Specification for Determining Wafer Coordinate System
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.140
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拓展解读
晶片作为现代电子和半导体技术的核心组件,其几何结构的精确描述对于制造、测试和应用至关重要。为了确保全球范围内的标准化操作与互操作性,国际标准化组织(ISO)及各国标准化机构制定了相关标准。中国国家标准《GBT 16596-2019 确定晶片坐标系规范》正是在这一背景下应运而生。
本文旨在探讨该标准的技术背景、主要内容及其对行业发展的深远影响。
随着半导体技术的进步,晶片的设计和生产变得更加复杂。为了保证晶片在不同设备上的兼容性和一致性,需要一套统一的坐标系规范来描述晶片的几何位置和方向。在此之前,由于缺乏统一的标准,各厂商往往采用自定义的坐标系,导致产品之间的不兼容问题频发。
强需求推动标准化: 在全球化供应链中,晶片的生产和测试通常涉及多个国家和地区的企业。因此,建立一个通用的晶片坐标系规范显得尤为重要。
《GBT 16596-2019》详细规定了晶片坐标系的定义、构建方法以及相关的测量要求。以下是该标准的核心内容概述:
《GBT 16596-2019》的发布标志着中国在半导体领域标准化工作的进一步深化。该标准不仅填补了国内相关领域的空白,还为国际标准化工作提供了有益参考。
《GBT 16596-2019 确定晶片坐标系规范》是中国标准化工作的一项重要成果,它为晶片的生产、测试和应用提供了科学、统一的指导原则。未来,随着技术的不断演进,该标准仍有进一步优化的空间,以适应更广泛的行业需求。