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    TCIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序
    电子元器件失效机理失效模式影响分析FMMEA
    13 浏览2025-06-02 更新pdf0.49MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)的通用方法和程序,包括分析流程、数据收集、失效机理识别、失效模式评估以及影响分析等内容。本文件适用于电子元器件的设计、制造、测试和应用阶段的可靠性分析与改进。
    Title:General Methods and Procedures for Failure Mechanism, Mode and Effect Analysis (FMMEA) of Electronic Components
    中国标准分类号:L78
    国际标准分类号:31.020

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    TCIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序
  • 拓展解读

    在TCIE 115-2021《电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序》中,与旧版相比,新增了关于“环境应力加速测试”的内容。这一变化对实际应用具有重要意义。

    以“环境应力加速测试”为例,新版标准更加强调了如何通过该测试来识别潜在失效模式并量化其风险。具体而言,在进行FMMEA时,需要根据产品的使用环境条件,选择合适的加速因子,如温度、湿度等,设计实验方案。例如,对于一款用于高湿环境下的电子元件,可以采用恒定湿热试验,设定较高的相对湿度(如95%)和一定温度(如40℃),观察元件在此条件下是否出现表面漏电流增大、绝缘电阻下降等问题。

    此外,新版标准还提出了利用加速寿命模型预测正常工作条件下元件寿命的要求。这就要求工程师不仅能够正确设置试验参数,还需要掌握相关数学模型,如Arrhenius方程等,从而将加速试验结果转化为实际使用寿命估计值。

    总之,“环境应力加速测试”作为TCIE 115-2021中新加入的重要环节,为企业提供了更加科学合理的手段来评估产品可靠性,有助于提高产品质量控制水平。在实际操作过程中,企业应当结合自身情况合理选用测试方法,并确保数据记录完整准确,以便后续分析改进。

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