资源简介
摘要:本文件规定了半导体封装用键合金丝的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体器件封装中作为内部连接的键合金丝。
Title:Semiconductor Packaging Gold Bonding Wire
中国标准分类号:H43
国际标准分类号:25.160
封面预览
拓展解读
在TZZB 1718-2023《半导体封装用键合金丝》中,有一项重要的变化是关于金丝直径公差的规定。与旧版标准相比,新版标准对金丝直径公差的要求更加严格。
以φ0.8mm直径的金丝为例,在TZZB 1718-2022版本中,其直径公差为±0.05mm,而在TZZB 1718-2023版本中,这一公差被收紧至±0.03mm。这意味着生产厂商需要具备更高的工艺水平来确保金丝直径的一致性。
对于这种更严格的公差要求,实际应用中可以采取以下措施:首先,在原材料选择上,应选用纯度高、杂质少的原材料,并且在材料加工过程中要保证均匀性;其次,在拉丝工序中,采用先进的拉丝设备和技术,控制好每一道拉拔过程中的张力和温度,以减少直径偏差;最后,在成品检测环节,增加在线监测装置,实时监控金丝直径的变化情况,及时发现并处理不合格产品。
通过这些措施,不仅可以满足TZZB 1718-2023标准的要求,还能提高产品质量,增强市场竞争力。同时,这也促使整个行业向更高精度的方向发展,推动技术创新和产业升级。