现行 SJ 21633-2021
碳化硅外延材料少子寿命的激光微波光电导衰减测试方法 碳化硅外延材料少子寿命的激光微波光电导衰减测试方法
发布日期：
实施日期：2022-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L10电子元器件与信息技术 - 电子元件 - 电子元件综合
ICS分类： 31.030电子学 - 电子技术专用材料
标准简介

本标准规定了碳化硅(SiC)外延材料少子寿命的激光微波光电导衰减测试方法的测试原理、测试条件、测试程序、数据处理和测试报告等内容。本标准适用于表面垂直方向上掺杂均匀的单层4H晶型SiC外延材料少子寿命的测试

相似标准/计划/法规
少子电导碳化硅衰减外延

最后更新时间 2025-09-02