T/IAWBS 012-2019 标准详情

T/IAWBS 012-2019 现行

碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法

Test Method for Surface Quality and Micropipe?Density?of Silicon Carbide?Single Crystal?Polishing Wafers——Confocal and Differential Interferometry Optics

标准内容导航

标准状态

发布日期2019-12-27

实施日期2019-12-31

标准信息

团体名称中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟

包含专利否

国际标准分类号29.045

行业分类C398 电子元件及电子专用材料制造

标准层级tbQbw86

标准状态现行

标准号T/IAWBS 012-2019

标准名碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法

标准英文名Test Method for Surface Quality and Micropipe?Density?of Silicon Carbide?Single Crystal?Polishing Wafers——Confocal and Differential Interferometry Optics

适用范围

本标准规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度的无损光学测量方法，表面质量包括划痕、凹坑、凸起、颗粒等。本标准适用于经化学机械抛光及最终清洗工序的碳化硅单晶抛光片，抛光片直径为50.8 mm、76.2 mm、100.0 mm、150.0 mm，厚度为300 μm~1000 μm。

主要技术内容

碳化硅作为第三代高功率半导体新材料的代表，碳化硅器件已经获得了业界极大的期望和关注。面向市场的快速普及，对碳化硅抛光片的质量提出更高要求，高品质的呼声越发高涨。因此，快速检测单晶碳化硅抛光片的微管密度和使用面的划痕、颗粒等表面缺陷，准确统计各类缺陷的数量和分布，是改善碳化硅抛光片品质、提高碳化硅抛光片产能的必要手段，确定一个准确可靠的碳化硅单晶片微管密度及表面质量检测方法和标准化检测机制，对于碳化硅单晶片的研发、生产和应用过程中产品表面质量的统一控制有重要的意义。