首页› 电子› GB/T 17444-2013

GB/T 17444-2013 标准详情

GB/T 17444-2013 现行
红外焦平面阵列参数测试方法
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

标准内容导航

标准状态

2013-11-12
2014-04-15

标准信息

工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
L52
31.260
国家标准
现行
GB/T 17444-2013
红外焦平面阵列参数测试方法
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

相似标准推荐

国家标准
GB/T 43798-2024 现行
平板显示阵列用正性光阻材料测试方法
Test method of positive photoresist for manufacturing of flat panel display array
发布日期2024-03-15
实施日期2024-10-01
CCS分类L90
ICS分类31.030
行业标准
YD/T 4414-2023 现行
数据中心存储阵列技术要求和测试方法
发布日期2023-07-28
实施日期2023-11-01
CCS分类M32
ICS分类33.040.40
国家标准
GB/T 35891-2018 现行
微阵列生物芯片清洗仪技术要求
Technical requirement of microarray washer
发布日期2018-02-06
实施日期2018-09-01
CCS分类N60
ICS分类71.040.20
国家标准
GB/T 34324-2017 现行
微阵列生物芯片点样仪技术要求
Technical requirement of microarray biochip spotter
发布日期2017-09-07
实施日期2018-04-01
CCS分类N60
ICS分类71.040.20
地方标准
DB4112/T 293-2021 现行
苹果霉心病防控技术规程
发布日期2021-10-14
实施日期2021-11-14
CCS分类B15/19
ICS分类65.020.20