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GB/T 24468-2025 标准详情

GB/T 24468-2025 即将实施
半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)

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标准状态

2025-10-05
2026-05-01

标准信息

国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
L85
17.040.30
国家标准
即将实施
GB/T 24468-2025
半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)

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