SJ/T 11765-2020 标准详情

SJ/T 11765-2020 现行
晶体管低频噪声参数测试方法

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标准状态

2020-12-09
2021-04-01

标准信息

工业和信息化部
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
制定
L42,L44
31.080.30
方法标准
电子
行业标准
现行
SJ/T 11765-2020
晶体管低频噪声参数测试方法

适用范围

适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

起草人

罗宏伟、胡为、王小强 等

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