GBT 12085.18-2011 光学和光学仪器.环境试验方法.第18部分:湿热、低内压综合试验
光学仪器
环境试验
湿热试验

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GBT 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分:低温、低气压综合试验
光学仪器
环境试验
低温试验

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GBT 12085.5-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压
光学仪器
环境试验
低温

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GBT 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAM:低温低气压综合试验
低温
低气压
综合试验

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GBT 2423.25-2008 电工电子产品 环境试验.第2部分:试验方法.试验ZAM:低温低气压综合试验
低温
低气压
环境试验

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GBT 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZBM:高温低气压综合试验
高温
低气压
环境试验

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GBT 2423.26-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验ZBM:高温低气压综合试验
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GBT 2423.27-2020 环境试验 第2部分:试验方法 试验方法和导则:温度低气压或温度湿度低气压综合试验
环境试验
温度
湿度

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GBT 2424.15-2008 电工电子产品环境试验.温度低气压综合试验导则
环境试验
温度
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GBT 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验规程 温度低气压综合试验导则
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GBT 2424.24-1995 电工电子产品环境试验 温度(低温、高温)低气压振动(正弦)综合试验导则
温度
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QJ 1485-1988 控制系统综合试验规范
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综合试验
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