GB/T 6620-2009 标准详情

GB/T 6620-2009 现行
硅片翘曲度非接触式测试方法
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

标准内容导航

标准状态

2009-10-30
2010-06-01

标准信息

国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
该标准采用国际标准
H82
29.045
国家标准
现行
GB/T 6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

相似标准推荐