GB/T 27760-2011 标准详情

GB/T 27760-2011 现行
利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

标准内容导航

标准状态

2011-12-30
2012-05-01

标准信息

中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
该标准采用国际标准
N04
19.020
国家标准
现行
GB/T 27760-2011
利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

相似标准推荐