拼音
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SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法.法向光强和半强度角的测试方法
半导体发光器件
法向光强
半强度角

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SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法
半导体发光器件
结电容
测试方法

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SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
半导体发光器件
发光峰值波长
光谱半宽度

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SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法.光通量的测试方法
半导体发光器件
光通量
测试方法

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SJ 2356-1983 3CD347型PNP硅低压低频大功率三极管
三极管
PNP

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SJ 2357-1983 3CD149型、3CD150型、3CD349型PNP硅低压低频大功率三极管
三极管
PNP

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SJ 2358-1983 3CD151型、3CD152型、3CD351型PNP硅低压低频大功率三极管
三极管
PNP

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SJ 2359-1983 3CD153型、3CD154型、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管
三极管
PNP

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SJ 2360-1983 3CD155型、3CD156型、3CD355型PNP硅低压低频大功率三极管
三极管
PNP

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SJ 2362-1983 3CD159型、3CD160型PNP硅低压低频大功率三极管
三极管
PNP

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