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资源简介
摘要：本文件规定了半导体电阻应变计的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以硅或锗为敏感材料的半导体电阻应变计。
Title：General Specifications for Semiconductor Resistive Strain Gauges
中国标准分类号：M63
国际标准分类号：17.120 -
封面预览
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拓展解读
主要内容总结
SJT 10435-1993《半导体电阻应变计总规范(可供认证用)》规定了半导体电阻应变计的分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等内容。
与老版本的变化对比
- 分类: 新增了对特殊环境应用的应变计分类要求。
- 技术要求: 提高了对温度稳定性的要求，并增加了对高频响应特性的描述。
- 试验方法: 增加了振动试验和冲击试验的具体操作步骤。
- 检验规则: 强化了出厂检验项目的完整性，并明确了不合格品的处理流程。
- 标志、包装、运输和贮存: 明确了防静电包装的要求，并增加了运输过程中的温湿度控制措施。
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