SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法

主要内容总结

SJ 2354.4-1983《PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法》规定了用于测量PIN和雪崩光电二极管正向压降的具体方法和技术要求。该标准适用于半导体器件的生产和质量控制，确保测试结果的一致性和准确性。

• 测试条件： 明确了测试时的环境条件，如温度、湿度等。
• 测试设备： 规定了所需使用的仪器设备及其精度要求。
• 测试步骤： 提供了详细的测试操作流程，包括接线方式、参数设置等。
• 数据处理： 对测试数据的记录和计算方法进行了规范。

与老版本的变化对比

相比老版本，SJ 2354.4-1983在以下几个方面进行了改进和优化：

• 测试精度提升： 引入了更高精度的测试设备要求，以减少测量误差。
• 环境适应性增强： 扩展了适用的环境范围，增加了极端条件下的测试指导。
• 操作简化： 对测试步骤进行了优化，使操作更加简便高效。
• 数据记录标准化： 统一了数据记录格式，便于后续分析和比较。