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资源简介
摘要：本文件规定了PIN、雪崩光电二极管光电参数测试的基本原则、测试条件和通用要求。本文件适用于PIN、雪崩光电二极管的光电参数测试及相关技术评估。
Title：Test Methods for Photoelectric Parameters of PIN and Avalanche Photodiodes - General Principles
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJ 2354.1-1983《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则》规定了PIN和雪崩光电二极管光电参数测试的基本原则和通用要求。该标准适用于这些光电二极管的性能评估，包括但不限于响应度、暗电流、频率响应等关键参数。
对比老版本的变化
- 测试环境: 新版本对测试环境的要求更加严格，增加了对温度和湿度的具体控制指标，以确保测试结果的一致性和可靠性。
- 测量精度: 提高了对测量设备精度的要求，并引入了更先进的测量技术，例如数字示波器和自动数据采集系统，以减少人为误差。
- 参数范围: 扩展了部分参数的测试范围，特别是针对高频响应的测试，新增了更高频率的测试条件。
- 安全性: 增加了对测试过程中安全操作的指导，强调了防止静电放电对器件损坏的措施。
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