• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 通信
  • SJ 20644-1997 PIN、APD光电探测器总规范

    SJ 20644-1997 PIN、APD光电探测器总规范
    光电探测器PINAPD半导体光通信
    18 浏览2025-06-07 更新pdf1.49MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了PIN、APD光电探测器的术语和定义、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于光通信系统中使用的PIN、APD光电探测器。
    Title:Specifications for PIN and APD Photodetectors
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:33.160

  • 封面预览

    SJ 20644-1997 PIN、APD光电探测器总规范
  • 拓展解读

    主要内容总结

    SJ 20644-1997《PIN、APD光电探测器总规范》规定了PIN和雪崩光电二极管(APD)光电探测器的通用技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。

    与老版本的变化对比

    • 技术要求:
      • 增加了对环境适应性的详细要求。
      • 提高了对光电转换效率的最低标准。
    • 试验方法:
      • 引入了更先进的测试设备和测量技术。
      • 优化了部分试验流程,提高了测试精度。
    • 检验规则:
      • 加强了出厂检验的要求,确保产品质量。
      • 增加了型式检验的内容,涵盖更多应用场景。
    • 标志、包装、运输和贮存:
      • 更新了包装材料的要求,以提高产品的防护性能。
      • 明确了运输过程中的注意事项,防止产品受损。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 SJ 20646-1997 混合集成电路DCDC变换器测试方法

    SJ 2065-1982 半导体器件生产用扩散炉测试方法

    SJ 20677-1998 微波集成PIN单刀开关模块通用规范

    SJ 20718-1998 碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法

    SJ 2072-1982 半导体管电视机中频变压器及收音机短波振荡线圈磁芯

资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1