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摘要:本文件规定了微波功率晶体管用硅外延片的技术要求、测试方法及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于微波功率晶体管用硅外延片的生产与检验。
Title:Specification for Silicon Epitaxial Wafers for Microwave Power Transistors
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.160
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拓展解读
SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范是针对微波功率晶体管制造中使用的硅外延片的技术标准,以下是与该主题相关的常见问题及其解答。
SJ 20514-1995 是中国国家军用标准,规定了用于微波功率晶体管的硅外延片的技术要求、测试方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存等内容。该标准适用于军用微波功率晶体管的制造,确保器件性能稳定可靠。
硅外延片是微波功率晶体管的核心材料之一,其主要作用是提供高质量的半导体层结构,以支持高频信号的传输和放大。外延片的质量直接影响晶体管的射频性能、击穿电压和可靠性。
要判断硅外延片是否符合该标准,需进行以下检查:
SJ 20514-1995 要求硅外延片的表面应无明显的划痕、裂纹或杂质污染。具体指标包括:
虽然 SJ 20514-1995 主要针对军用领域,但其技术要求对高性能的民用微波功率晶体管同样适用。不过,民用产品可能需要额外考虑成本和生产效率。
选择供应商时需注意以下几点:
截至目前,SJ 20514-1995 仍然是现行有效的标准。如果有新的版本发布,通常会在官方标准化机构网站上公布,建议定期关注相关动态。
如果发现外延片不符合标准,应采取以下措施:
高频参数通常包括:
为延长使用寿命,需注意以下事项: